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Cila 2.0 裸光纖拋光和檢測(cè)系統(tǒng) （光纖研磨拋光） Bare Fiber Polishing and Inspection, Cila 2.0裸光纖拋光和檢測(cè)系統(tǒng)可以有效地獲取、對(duì)齊、定位和拋光大量形狀奇特的裸光纖。內(nèi)置檢測(cè)系統(tǒng)，提供高分辨率成像和參考，使其在對(duì)公差要求高的應(yīng)用方面有突出表現(xiàn)，如在拋光角度、徑向?qū)?zhǔn)(PM光纖)和精確光纖突出長度等方面。

光學(xué)波導(dǎo)拋光和檢測(cè)系統(tǒng)（光纖研磨拋光） Optical Waveguide Polishing and Inspection Cila 2.0光學(xué)波導(dǎo)，光纖陣列V型槽拋光和檢測(cè)系統(tǒng)可以拋光和檢測(cè)多種類型的光波導(dǎo)、多光纖陣列V型槽，以及需要共面、平面、傾斜或多面端面的類似組件。該系統(tǒng)配備了一個(gè)剖面圖，高分辨率攝像機(jī)，允許用戶監(jiān)控拋光過程，進(jìn)行余量去除和角度驗(yàn)證。具有精確定位能力的明視場

ProView™ XD 光纖端面質(zhì)量檢測(cè)干涉儀/顯微鏡 (用于連接器 光纖包層直徑220-1200um)（光纖研磨拋光/切割剝離器） ProView XD是一款高度先進(jìn)的干涉儀，用于精確測(cè)量和檢查直徑為220至1200µm的光纖端面。干涉儀是專門為生產(chǎn)線設(shè)計(jì)的，在生產(chǎn)線中需要簡單、快速和非常準(zhǔn)確的端面檢測(cè)。但ProView XD也非常適合研發(fā)環(huán)境和連接器維護(hù)目的。

ProView™ LD 光纖端面質(zhì)量檢測(cè)干涉儀/顯微鏡 (用于連接器 光纖包層直徑125-720um)（光纖研磨拋光/切割剝離器） ProView LD是一款高度先進(jìn)的干涉儀，用于精確測(cè)量和檢查直徑為125至720µm的光纖端面。干涉儀是專門為生產(chǎn)線設(shè)計(jì)的，在生產(chǎn)線中需要簡單、快速和非常準(zhǔn)確的端面檢測(cè)。但ProView LD也非常適合研發(fā)環(huán)境和連接器維護(hù)目的。

ProView™ XD 光纖端面質(zhì)量檢測(cè)干涉儀/顯微鏡 (用于光纖支架 光纖包層直徑220-1200um)（光纖研磨拋光/切割剝離器） ProView XD是一款高度先進(jìn)的干涉儀，用于精確測(cè)量和檢查直徑為220至1200µm的光纖端面。干涉儀是專門為生產(chǎn)線設(shè)計(jì)的，在生產(chǎn)線中需要簡單、快速和非常準(zhǔn)確的端面檢測(cè)。但ProView XD也非常適合研發(fā)環(huán)境和光纖切割機(jī)維護(hù)目的。