熱門搜索：
P760/01_2760nm單模垂直腔面發射激光器
VCSEL-20-M激光控制驅動器
ZNSP25.4-1IR拋光硫化鋅(ZnS)多光譜(透明)窗片 0.37-13.5um 25.4X1.0mm（晶體/棱鏡
CO2激光光譜分析儀
Frequad-W-CW DUV 單頻連續激光器 213nm 10mW Frequad-W
HB-C0BFAS0832x4 QPSK C波段相干混頻器（信號解調/鎖相放大器等）
ER40-6/125截止波長1300nm 高摻雜EDF摻鉺光纖
SNA-4-FC-UPC日本精工法蘭FC/UPC（連接器/光纖束/光纜）
THL-ZnTe20-500RZNTE（碲化鋅）太赫茲晶體
IRV2000-1X1倍紅外觀察鏡 350-2000nm,分辨率 60lp/mm
GD5210Y-2-2-TO46905nm 硅雪崩光電二極管 400-1100nm
NANOFIBER-400-9-SA干涉型單模微納光纖傳感器 1270-2000nm
1030nm超短脈沖種子激光器PS-PSL-1030
高能激光光譜光束組合的光柵 （色散勻化片）
FLEX-BF裸光纖研磨機
S+C+L波段 160nm可調諧帶通濾波器
product
產品分類
熱輔助磁記錄介質的非接觸HAM/RTAMR評估系統( 顯微鏡/測振/磁光克爾) 產品總覽 產生磁場±6.5T的熱（Thermal）輔助磁記錄介質（HAMR或TAMR）非接觸評估系統。
更新時間：2025-02-25
產品型號：BH-802HM
瀏覽量：1081
極紫外和軟x射線輻射EUV顯微鏡 (Metrology計量學 無損亞納米級次表面成像) （顯微OCT掃頻測振） 產品總覽 三維無損成像技術在材料科學和醫學等許多應用領域都非常重要。我們開發了一種成像技術，利用極紫外和軟x射線輻射來獲得納米分辨率的橫截面圖像。 例如，我們能夠無損地研究硅片或生物樣品中的近表面結構。
更新時間：2024-12-08產品型號：瀏覽量：1279
軟磁層評價系統 BH-618HS-P20（ 顯微鏡/測振/磁光克爾） 產品總覽 軟磁層的非接觸式評估系統，例如具有映射和傾斜角測量功能的硬盤介質中的 SUL。
更新時間：2025-02-25產品型號：BH-618HS-P20-780瀏覽量：1046
垂直磁記錄介質評價體系 BH-810CPC（ 顯微鏡/測振/磁光克爾） 產品總覽 具有映射評估功能的硬盤垂直記錄介質（PMR）非接觸評估系統。
更新時間：2025-02-25產品型號：瀏覽量：1025
克爾環路測量和域觀測系統 BH-1071（顯微OCT掃頻測振/磁光克） 用于動態（實時）磁疇觀測和顯微克爾環測量的組合系統。
更新時間：2025-02-25產品型號：BH-1071-650瀏覽量：893
當前位置：
